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熒光光譜儀的主要用途與應(yīng)用對(duì)象

日期：2025-07-21 02:08
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摘要：

熒光光譜儀是較新型X射線(xiàn)熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間**元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果**度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的*大尺寸要求為直徑51毫米，高40毫米。

熒光激發(fā)光譜和熒光發(fā)射光譜，同步熒光（波長(zhǎng)和能量）掃描光譜，3D（ExEmIntensity)，TimeBase和CWA(固定波長(zhǎng)單點(diǎn)測(cè)量），熒光壽命測(cè)量，包括壽命分辨及時(shí)間分辨，計(jì)算機(jī)采集光譜數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)（Datamax和Gram32)。

熒光光譜儀的分析對(duì)象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標(biāo)半定量分析，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的**度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。

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